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葉面積測量儀探討葉面積指數

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產品/服務: 葉面積測量儀 
品 牌: 托普 
單 價: 面議  詢價
最小起訂量:  
供貨總量:
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2015-03-19 21:53
瀏覽次數: 441
公司基本資料信息






 
 
產品詳細說明

對于葉面積指數的測量,目前常見的方式有兩種,分別是直接測量和間接測量,直接測量法樹木解析法如稱重法、葉面積測量儀等已成功地應用在農業系統中。落葉收集法對四季分明的落葉樹種非常合適,但對那些常綠樹種就無用了。點接觸法是通過用一頭尖的細棒以不同的頂角和方位角插入植冠,然后記錄細棒從冠層頂部到底部的過程中跟棒尖相接觸的葉片數目來計算葉面積指數。此方法對于高大的林木和葉子高度密集的針葉林是不實際的。

間接測量法,光學儀器葉面積測量儀可以快速地進行大面積測量,不破壞林木,節省人力物力,但也各有利弊。除TRAC外的測量儀都是假設葉片在空間的分布是隨機的,不考慮葉片的集聚效應,測出的是有效葉面積指數

儀器名稱:葉面積測量儀

儀器型號:YMJ

葉面積測量儀  //www.plant17.net/

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