葉(xie)(xie)面(mian)(mian)積(ji)測(ce)(ce)定儀作為一(yi)種直(zhi)接測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)葉(xie)(xie)面(mian)(mian)積(ji)參(can)數的儀器(qi)，其(qi)可(ke)以(yi)直(zhi)接測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)的葉(xie)(xie)面(mian)(mian)積(ji)參(can)數包(bao)括(kuo)葉(xie)(xie)片(pian)(pian)質(zhi)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)、形狀、長寬等參(can)數，再轉換為面(mian)(mian)積(ji)。這是經典(dian)的、成熟的LAI測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)(fa)，具(ju)有最高的測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)精度。其(qi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)值通常(chang)被稱(cheng)為真實葉(xie)(xie)面(mian)(mian)積(ji)指數，是間(jian)接測(ce)(ce)定的重要對(dui)比方(fang)法(fa)(fa)(fa)。該方(fang)法(fa)(fa)(fa)包(bao)括(kuo)葉(xie)(xie)片(pian)(pian)采(cai)集(ji)(ji)和測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)2個步驟(zou)。葉(xie)(xie)片(pian)(pian)采(cai)集(ji)(ji)方(fang)法(fa)(fa)(fa)有落葉(xie)(xie)箱法(fa)(fa)(fa)、代(dai)表植(zhi)株法(fa)(fa)(fa)、區域采(cai)樣法(fa)(fa)(fa)等；測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)(fa)有格(ge)點法(fa)(fa)(fa)、方(fang)格(ge)法(fa)(fa)(fa)、描形稱(cheng)重法(fa)(fa)(fa)以(yi)及掃描和攝影等儀器(qi)測(ce)(ce)定法(fa)(fa)(fa)。由于(yu)直(zhi)接測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)對(dui)植(zhi)物本身具(ju)有一(yi)定的破壞性，且必須人(ren)工采(cai)集(ji)(ji)葉(xie)(xie)片(pian)(pian)樣品(pin)，費時耗(hao)力，采(cai)樣不一(yi)定具(ju)有代(dai)表性，葉(xie)(xie)面(mian)(mian)積(ji)測(ce)(ce)定儀一(yi)般只用作科研(yan)，故實際測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)和研(yan)究中常(chang)采(cai)用間(jian)接測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)法(fa)(fa)(fa)。

間接測(ce)量(liang)(liang)法與直接測(ce)量(liang)(liang)法相比，葉面積測(ce)定儀能夠更(geng)快、更(geng)大范圍(wei)地(di)對LAI進行測(ce)量(liang)(liang)，并且不(bu)對植物產生(sheng)傷(shang)害，因此得到(dao)迅速(su)發展(zhan)和廣泛應用(yong)。但(dan)是，采用(yong)這種方(fang)(fang)法得到(dao)的(de)LAI往往偏(pian)低，不(bu)同類(lei)型的(de)冠層低估范圍(wei)通(tong)常在(zai)25%～50%。雖然目前(qian)有許多方(fang)(fang)案能克服由(you)于(yu)間接測(ce)量(liang)(liang)帶來的(de)偏(pian)差(cha)，但(dan)并沒有根本地(di)解決此類(lei)問題(ti)的(de)產生(sheng)。

儀器名稱：葉面積測量儀

儀器型號：YMJ

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